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ESD 测试致手机失效的现象与解决对策

时间:2012-07-23 16:44来源:电子工程世界 作者:小水 点击:
ESD 测试产生失效的现象有两种:一种是永久性失效,即导致手机损坏;另一种是软失效,即测试结束后或重新启动手机后失效的功能可以恢复。 ESD 测试过程中手机软失效的现象有:

  ESD 测试产生失效的现象有两种:一种是永久性失效,即导致手机损坏;另一种是软失效,即测试结束后或重新启动手机后失效的功能可以恢复。


  ESD 测试过程中手机软失效的现象有:


  1) 手机自动关机,重启后能恢复工作;


  2) 手机通话中断;


  3) 手机自动重启;


  4) 手机死机,重启后可恢复工作;


  5) 屏幕显示异常,如屏幕显示白屏、黑屏、屏幕显示模糊、屏幕出现乱码、或屏幕出现条纹等;


  6) 触摸屏功能或按键功能丧失;


  7) 软件出现错误提示,如在充电器没有插拔的情况下屏幕频繁提示,“充电器已移除,充电器已连接”;


  8) 测试过程中通话质量降低,声音消失或断续或出现啸叫声等。


  ESD 导致手机损坏的现象有:


  1) 自动关机后不能再次开机;


  2) 由于部分器件损坏,手机的某些功能已无法恢复;


  3) 处于充电状态测试时,充电器发生损坏甚至爆炸等现象。


  笔者试验了213 批次手机,其中ESD 试验不合格的有41 批次,不合格比例为19.2 %。试验结果表明,ESD 抗扰性是电磁兼容测试主要不合格项目之一。试验中失效最多的工作状态为充电、专用模式,放电模式为空气放电;失效点多集中在按键、接缝和LCD 显示屏;出现失效现象频率由高到低依次为:通话中断;通话中断,手机转充电状态;手机自动重启;死机,重启后可恢复工作;试验过程中充电器坏或爆炸;死机,试验后不能恢复工作;实验中白屏、死机、试验后不能恢复工作等。


  ESD 失效对策


  手机ESD 试验不合格,大部分是可恢复的暂时性功能失效,这些失效与手机抗静电设计密切相关,为了提高手机的抗静电能力,可以从以下几个方面进行改进:


  1) 从结构接地保护方面考虑,最好能实现多点接地,间隙要小。接地点应尽可能地多,缩短接地线长度,结构应尽可能地密封;


  2) 敏感元件远离缝隙或固定开孔;


  3) 选用抗静电等级较高的器件;


  4) 加大塑胶垫的面积,加长静电干扰路径,削减ESD 对线路的影响;


  5) 保持地电流远离敏感电路及有关线路;


  6) 对于敏感器件,通过使用保护器件(如TVS、ESD 防护器件) 来加强保护;


  7) 保持敏感器件与静电源隔离;


  8) 减少回路面积,电源与地尽可能地近,走线尽可能地短,信号线尽可能地靠近地线。 

    

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(责任编辑:佚名)
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