一、概述
　　在人们的日常生活和工作中, 经常会碰到静电现象。那么, 静电到底是什么, 它的产生机理以及它有哪些危害, 如何预防和消除这些危害, 这是我们必须考虑和解决的题目。
　　1． 什么是静电？
　　静电是一种电能，它存在于物体表面，是正负电荷在局失衡时产生的一种现象。静电现象是指电荷在产生与消失过程中所表现出的现象的总称，如摩擦起电就是一种静电现象。
　　2． 为什么要防静电？
　　由于电子行业的迅速发展，体积小、集成度高的器件得到大规模生产，从而导致导线间距越来越小，尽缘膜越来越薄，致使耐击穿电压也愈来愈低。而电子产品在生产、运输、储存和转运等过程中所产生的静电电压却远远超过其击穿电压阈值，这就可能造成器件的击穿或失效，影响产品的技术指标，降低其可靠性。由此可见，静电是电子行业发展中的一大障碍。所以预防静电必须提到议事日程上来，以确保产品的质量。
　　为使电子器件及产品在购买、进库、发料、检验、储存、调测和安装等过程中免受静电危害,了解静电产生的机理和一些防止静电产生危害的相关知识是非常必要和重要的。
　　二、电子行业中静电障害的形成
　　电子行业中静电障害可分为两类：一是由静电引力引起的浮游尘埃的吸附；二是由静电放电引起的介质击穿；
　　1． 静电吸附
　　在半导体元器件的生产制造过程中, 由于大量使用了石英及高分子物质制成的用具和材料，其尽缘度很高，在使用过程中一些不可避免的摩擦可造成其表面电荷不断积聚, 且电位愈来愈高。表1列出了半导体元器件及其使用环境中部分物品表面的静电电位。
　　从表1可见，它们的静电电位都很高。由于静电的力学效应，在这种情况下, 很轻易使工作场所的浮游尘埃吸附于芯片表面，而很小的尘埃吸附都有可能影响半导体器件的良好性能。所以电子产品的生产必须在清洁环境中操纵，并且操纵职员、用具及环境必须采取一系列的防静电措施，以防止和降低静电危害的形成。
　　2．介质击穿的分类
　　由静电引起元器件的击穿是电子产业中静电危害的主要方式。在强电场中，随着电场强的增强，电荷不断积累，当达到一定程度时，电介质会失往极化特征而成为导体，最后产生介质的热损坏现象，这种现象称为电介质的击穿。介质击穿分热击穿、化学击穿和电击穿三种形式。
　　（1）热击穿 介质工作时，当损耗产生的热量大于介质向四周散发的热量时，介质的温度迅速升高，导电随之增加，直至介质的热损坏。可见热击穿的核心题目是散热题目。所以热设计是产品设计的重要环节之一。
　　（2）化学击穿 在高压下，强电场会在介质表面或内部的缺陷小孔四周产生局部空气碰撞电离，引起介质电辉，天生化学物质--臭氧和二氧化碳，使尽缘性能降低，致使介质损坏。
　　（3）电击穿 电击穿是介质在强电场作用下, 被击发出自由电子而引起的。自由电子随电场强度的增加而急剧增加，从而破坏介质的尽缘性能。可见电击穿的本质是电荷积聚所致, 因而防止电荷积聚就可防止电击穿。一般把击穿的临界电压称为击穿电压, 临界场强称为击穿场强。例如: E空气 = 3 kV/m, MOS管结构的E栅氧化摸 = 1.0×106kV/m。
　　3．静电的击穿与放电
　　（1）静电放电 静电放电与外加稳定电源产生的放电固然同为电荷积聚所致，但又有着明显的区别。首先，在静电放电的情况下，起放电电源是空间电荷，因而它所储存的能量是有限的，不像外加电源那样具有持续放电的能力，故它仅能提供短暂发生的局部击穿能量。固然静电放电的能量较小, 但其放电波形很复杂，控制起来也比较麻烦。半导体器件的软击穿就与它有关。
　　（2）静电击穿 由静电击穿引起的元器件击穿损坏是电子产业中，特别是电子产品制造中最普遍、最严重的危害。
　　静电放电可能造成器件硬击穿或软击穿。硬击穿是一次性造成器件的永久性失效，如器件的输出与输进开路或短路。软击穿则可使器件的性能劣化，并使其指标参数降低而造成故障隐患。由于软击穿可使电路时好时坏（指标参数降低所致），且不易被发现，给整机运行和查找故障造成很大麻烦。软击穿时设备仍能带"病"工作，性能未发生根本变化，很可能通过出厂检验，但随时可能造成再次失效。多次软击穿就能造成硬击穿，使设备运行不正常，既给用户造成损失，也影响厂家声誉和产品的销售。 (责任编辑：蚂蚁)