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手机ESD测试解决方案

时间:2013-03-21 09:48来源:未知 作者:佚名 点击:
手机的功能越来越强大,而电路板却越来越小,集成度越来远高,使得其 ESDS 敏感越来越容易受到静电的损害。

 

  手机的功能越来越强大,而电路板却越来越小,集成度越来远高,使得其ESDS敏感越来越容易受到静电的损害。北方的天气比较干燥,容易产生静电击穿手机的电路,某些设计不好的手机就是这样突然坏的。
 
  ESD静电放电有两种主要的破坏机制:
 
  1)由ESD电流产生的热量导致设备的热失效
 
  2)由ESD感应出过高电压导致绝缘击穿。 两种破坏可能在一格设备中同时发生,例如,绝缘击穿可能激发大的电流,这又进一步导致热失效。
 
  除容易造成电路损害外,静电放电也是极易对电子电路造成干扰。静电放电对于电路的干扰有二种方式。 一种是传导干扰,另一种是辐射干扰。
 
  手机电路中需要进行ESD防护的部位有:SIM卡插作与CPU读电路,键盘电路,耳机,麦克风电路,电源接口,数据接口,USB接口,彩屏LCD驱动接口。
 
  ESD可造成手机工作异常、死机,甚至损坏并引发其它一系列安全问题,所以,在上市入网前都明确要求进行ESD测试。其中接触放电需要做到±8kv静电正常,空气放电需要做到±15kv静电正常。要求在静电放电的情况下依然保持通话正常且工作稳定,起到了很好的静电设计工程师需要重点关心的问题,通过不断的总结学习,EDS问题将不再是一个难题。

 

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(责任编辑:佚名)
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