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ESD对电子元器件的危害

时间:2012-10-23 10:43来源:防静电产品咨询网 作者:www.esd.cn 点击:
静电是一种看不见的破坏力,会对电子元器件产生影响。ESD未必总造成元器件的完全失效;它会造成一般测试无法检测到的元器件潜在缺陷。这种脆弱的元器件在系统工作期间

  静电是一种看不见的破坏力,会对电子元器件产生影响。ESD未必总造成元器件的完全失效;它会造成一般测试无法检测到的元器件潜在缺陷。这种“脆弱”的元器件在系统工作期间,在恶劣环境条件下,更可能在现场发生失效。在制造、储存、运输、包装、组装、测试阶段采取一些简单的预防措施,再适当地设计电路,就可以减少由ESD造成的损坏影响。


  对于半导体器件来说,如果有一个强电场施加在器件结构中的氧化物薄膜上,则该氧化物薄膜就会因介质击穿而损坏。很细的金属化迹线会由于大电流而损坏,并会由于浪涌电流造成的过热而形成开路。PN结的失效可能是由于“电流拥塞”效应而引起的,这种效应在大电流通过PN结造成大电流密度时发生。ESD造成的潜在缺陷可能使器件在以后更容易损坏,并且可能使器件时好时坏。

 

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(责任编辑:政委)
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