静电对于元器件的损坏有潜在失败形式或灾难性的失败形式。

　　1． 潜在失败形式-------结果导致门限泄漏。 　　2． 灾难性失败形式-------发生有两种形式（直接的和潜在的）。

　　当直接灾难性失败模式发生时，一个元气件在某点上是被击穿，它将再也不能起到作用。这种静电放电损毁类型既简单易发现，因在测试中它通常能被测到。

　　当潜在失败发生时，静电放电使元气件对于某点上削弱或受伤，在测试中，它将仍然可以通过。但是，长时间受伤的元气件会引起不良的表现，最终导致系统失败。因为潜在失败发生是在最后的检查或是在公司的控制范围内，这个修理成本是非常高的，不仅这种类型损伤很难发现，它将几次影响贵司产品的声誉，当混乱失败模式发生时，一个静电释放引起一个电流漂移，它不是引起整个意义上的失败。但是，在使用时可能断断续续地导致门限泄漏，以致引起软件损失或储存不正确信息。混乱或潜在失败模式可能通过贵司质量控制的测试项目，因为它不可能通过正常测试程序被察觉到、感觉到或看到。就好象你将不会在一个被污染的手术室里进行外科手术那样，在没有充足的防静电保护措施下，你应该永不接触、组装或修理电子装配。