静电在某些形式下是很容易看得见，电荷能够对每天工作中接触的电子元器件起作用，这些作用是非常危险并且不是那么显而易见的。静电释放作用的损失非常大，很小的电荷就可以损害半导体元气件。在设备上使用的很多元器件只用小于1000伏电压就可被损坏掉，一些精密的器件低于10伏电压就可能被损坏掉。那么，静电释放破坏的形式有哪些呢？

 

　　静电对于元器件的损坏有潜在形式或直接性的形式。

 

　　当直接形式发生时，一个元器件在某点上被击穿，它将再也不能起到作用。这种静电放电损毁类型既简单也容易发现，因在测试中它通常能被检测到。

 

　　当潜在形式发生时，静电放电使元器件对于某点上削弱或损伤，在测试中，它将仍然可以通过。但是，长时间受损伤的元器件会引起不良的表现，最终导致系统失败。因为潜在形式发生是在最后的检查或是在公司的控制范围内，这个修理成本是非常高的，不仅这种类型损伤很难发现，它将几次影响贵司产品的声誉，当潜在形式发生时，一个静电释放引起一个电流漂移，它不是引起整个产品的损伤。但是，在使用时可能断断续续地导致门限泄漏，以致引起软件损失或储存不正确信息。这种形式可能通过贵司质量控制的测试项目，因为它极不容易通过正常测试程序被察觉、感觉或看到。因此，在没有充足的防静电保护措施下，应该避免接触、组装或修理电子装配。更多防静电解决方案请登录中国防静电产品资讯网。

 

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